연구개발 장비 현황
고객들의 삶의 질을 높이고 보다 아름다운 세상을 만드는데 기여하고자 합니다.
에이엔씨코리아는 최첨단 연구장비를 통해 품질과 기술력이 뛰어난 제품 개발에 힘쓰고 있습니다.
분석 및 측정 장비
SEM (주사전자현미경) SNE-4500M
SEC, USA
전자빔을 이용하여 시료 표면을 주사하여 미세 조직과 형상을 관찰하는 장비입니다. 높은 분해능으로 나노미터 단위의 구조까지 관찰할 수 있어 재료의 표면 분석 및 품질 검사에 필수적인 장비입니다.
XRF (X선형광분석기) X-ray XDL
Helmut-Fischer, Germany
X선을 이용해 물질의 성분을 분석하는 장비로, 금속 합금의 성분 분석, 코팅 두께 측정, 이물질 검출 등에 활용하는 장비입니다. 비파괴 분석이 가능하여 제품의 품질관리에 매우 유용합니다.
ICP (유도결합플라즈마 분광분석기) Optima8000 (ICP-OES)
Perkin Elmer, USA
고온 플라즈마 내에서 들뜬 원소의 방출 스펙트럼 파장 및 방출세기를 측정하여 시료의 정성/정량 분석이 가능한 장비입니다. 다원소 동시분석이 가능하며 PPb 단위까지 정밀한 분석이 가능합니다.
광학현미경 BX-51
Olympus, Japan
금속 표면의 미세한 구조, 입자, 결함 등을 정확하게 관찰하는 데 사용되는 광학현미경입니다. 최대 1000배까지 확대 관찰이 가능하며, 제품의 미세 구조 분석 및 품질 검사에 활용됩니다.
UV/VIS (자외가시분광광도계) OPTIZEN POP
KLAB, Korea
자외선과 가시광선 대역에서 시료의 파장별 투과도 또는 흡광도를 측정하여 이로부터 농도나 순도 등의 정량적 특성을 파악하는 장비입니다. 용액의 농도 분석 및 첨가제 분석에 활용됩니다.